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JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀
JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化EPMA。
詳細(xì)介紹
檢測元素范圍 | WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U |
檢測X-ray 范圍 | 波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范圍EDS: 20 keV |
譜儀數(shù) | WDS: 最多5個可選, EDS: 1個 |
最大樣品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
加速電壓 | 0.2 to 30 kV (0.1 kV steps) |
探針電流范圍 | 1 pA to 10 μA |
探針電流穩(wěn)定性 | ± 0.05％ / h, ± 0.3％ / 12 h（W） |
二次電子像分辨率（觀察模式） | 6 nm（W）, 5 nm（LaB6）＊3 |
掃描放大倍率 | ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
掃描圖像分辨率 | Maxium 5,120 × 3,840 |
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